Normas

NMX-R-62622-SCFI-ANCE-2014

Información principal

Clave de la Norma: NMX-R-62622-SCFI-ANCE-2014

Título de la Norma: NANOTECNOLOGÍAS-DESCRIPCIÓN, MEDICIÓN Y PARÁMETROS DE CALIDAD DIMENSIONAL DE REJILLAS ARTIFICIALES (CANCELARÁ A LA NMX-R-62622-SCFI-ANCE-2014).

Estado de la Norma: VIGENTE

Fecha de publicación en el DOF: 2015-04-13

Fecha de entrada en vigor: 2015-06-12

Información general

ICS: 91

Rama de actividad económica / industrial: INDUSTRIAS DIVERSAS

Producto, servicio, proceso o sistema: INDUSTRIAS DIVERSAS

Dependencia(s): 

• CENAM – Centro Nacional de Metrología

Comité que desarrolló la Norma: 

• Comité Técnico de Normalización Nacional en Nanotecnologías (CTNNN)

Concordancia internacional

Esta norma mexicana coincide totalmente con la especificación técnica IEC/TS 62622 Nanotechnologies-Description, measurement and dimensional quality parameters of artificial gratings.

Grado: Idéntica

Historial Documental de la Norma

• Proyecto de NMX

  23 Oct 2014

• NMX

  13 Abr 2015